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- 1.1.1-自动控制理论的形成与发展
- 1.2.1-自动控制系统的基本概念（1）
- 1.2.2-自动控制系统的基本概念（2）
- 1.3.1-自动控制系统的基本构成
- 1.4.1-自动控制系统的分类
- 1.5.1-对自动控制系统的基本要求
- 2.1.1-线性系统的微分方程
- 2.2.1-非线性系统的线性化
- 2.3.1-传递函数（1）
- 2.3.2-传递函数（2）
- 2.3.3-传递函数（3）
- 2.4.1-方框图及其变换（1）
- 2.4.2-方框图及其变换（2）
- 2.5.1-信号流图及其应用（1）
- 2.5.2-信号流图及其应用（2）
- 2.5.3-信号流图及其应用（3）
- 2.6.1-控制系统的典型传递函数
- 3.1.1-典型输入信号
- 3.2.1-线性定常系统的时域响应与性能指标
- 3.3.1-一阶系统的时域响应
- 3.4.1-二阶系统的时域响应（1）
- 3.4.2-二阶系统的时域响应（2）
- 3.4.3-二阶系统的时域响应（3）
- 3.4.4-二阶系统的时域响应（4）
- 3.4.5-二阶系统的时域响应（5）
- 3.5.1-高阶系统的时域响应
- 3.6.1-线性定常系统的稳定性（1）
- 3.6.2-线性定常系统的稳定性（2）
- 3.6.3-线性定常系统的稳定性（3）
- 3.7.1-系统的稳态误差（1）
- 3.7.2-系统的稳态误差（2）
- 3.7.3-系统的稳态误差（3）
- 4.1.1-根轨迹法的概念
- 4.2.1-根轨迹方程
- 4.3.1-常规根轨迹及其绘制（1）
- 4.3.2-常规根轨迹及其绘制（2）
- 4.3.3-常规根轨迹及其绘制（3）
- 4.3.4-常规根轨迹及其绘制（4）
- 4.3.5-常规根轨迹及其绘制（5）
- 4.3.6-常规根轨迹及其绘制（6）
- 4.4.1-广义根轨迹及其绘制（1）
- 4.5.2-用根轨迹分析控制系统（2）
- 5.1.1-频率特性的基本概念（1）
- 5.1.2-频率特性的基本概念（2）
- 5.2.1-典型环节的频率特性（1）
- 5.2.2-典型环节的频率特性（2）
- 5.3.1-系统开环频率特性（1）
- 5.3.2-系统开环频率特性（2）
- 5.3.3-系统开环频率特性（3）
- 5.4.1-奈奎斯特稳定判据（1）
- 5.4.2-奈奎斯特稳定判据（2）
- 5.4.3-奈奎斯特稳定判据（3）
- 5.5.1-控制系统的相对稳定性（1）
- 5.5.2-控制系统的相对稳定性（2）
- 5.6.1-闭环系统频率特性（1）
- 5.6.2-闭环系统频率特性（2）
- 5.7.1-频域性能指标与时域性能指标的关系
- 6.1.1-控制系统校正的概念
- 6.2.1-基本控制规律分析（1）
- 6.2.2-基本控制规律分析（2）
- 6.3.1-串联超前校正（1）
- 6.3.2-串联超前校正（2）
- 6.3.3-串联超前校正（3）
- 6.4.1-串联滞后校正（1）
- 6.4.2-串联滞后校正（2）
- 7.1.1-非线性系统概述
- 7.2.1-描述函数法（1）
- 7.2.2-描述函数法（2）
- 7.2.3-描述函数法（3）
- 7.3.1-相平面法
- 8.1.1-离散系统的基本概念
- 8.2.1-信号的采样与保持
- 8.3.1-Z变换理论（1）
- 8.3.2-Z变换理论（2）
- 8.3.3-Z变换理论（3）
- 8.4.1-离散控制系统的数学模型（1）
- 8.4.2-离散控制系统的数学模型（2）
- 8.4.3-离散控制系统的数学模型（3）
- 8.5.1-离散控制系统的分析（1）
- 8.5.2-离散控制系统的分析（2）
- 8.5.3-离散控制系统的分析（3）