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自动控制原理

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  • 1.1.1-引言
  • 1.2.1-自动控制系统的基本概念
  • 1.3.1-自动控制系统的分类及组成
  • 1.4.1-对控制系统的性能要求及1.4对控制系统的性能要求
  • 2.1.1-控制系统的数学模型引言
  • 2.2.1-控制系统的时域数学模型
  • 2.3.1-拉普拉斯变换（一）
  • 2.3.2-拉普拉斯变换（二）
  • 2.4.1-控制系统的复域数学模型
  • 2.5.1-控制系统的结构图与信号流图(一）
  • 2.5.2-控制系统的结构图与信号流图(二)
  • 2.5.3-控制系统的结构图与信号流图(三)
  • 3.1.1-引言及3.2线性系统的时域性能指标
  • 3.3.1-线性系统的稳定性分析（一）
  • 3.3.2-线性系统的稳定性分析（二）
  • 3.4.1-线性系统的快速性分析（一）
  • 3.4.2-线性系统的快速性分析（二）
  • 3.4.3-线性系统的快速性分析（三）
  • 3.5.1-线性系统的准确性分析（一）
  • 3.5.2-线性系统的准确性分析（二）
  • 3.5.3-线性系统的准确性分析（三）
  • 3.5.4-线性系统的准确性分析（四）
  • 3.6.1-线性系统的时域法校正
  • 4.1.1-根轨迹法的基本概念
  • 4.2.1-常规根轨迹的绘制法则（一）
  • 4.2.2-常规根轨迹的绘制法则（二）
  • 4.2.3-常规根轨迹的绘制法则（三）
  • 4.3.1-广义根轨迹-参数根轨迹
  • 4.4.1-广义根轨迹-零度根轨迹
  • 4.5.1-系统性能的分析
  • 5.1.1-频率特性（一）
  • 5.1.2-频率特性（二）
  • 5.2.1-典型环节与开环系统频率特性（一）
  • 5.2.2-典型环节与开环系统频率特性（二）
  • 5.2.3-典型环节与开环系统频率特性（三）
  • 5.2.4-典型环节与开环系统频率特性（四）
  • 5.2.5-典型环节与开环系统频率特性（五）
  • 5.3.1-频率稳定判据（一）
  • 5.3.2-频率稳定判据（二）
  • 5.4.1-频率稳定裕度
  • 5.5.1-频率稳定裕度及5.5闭环系统的频率性能指标
  • 5.6.1-线性系统的校正方法-概述
  • 5.6.2-线性系统的校正方法-超前校正
  • 5.6.3-线性系统的校正方法-滞后校正
  • 5.6.4-线性系统的校正方法-滞后超前校正
  • 6.1.1-离散系统基本概念
  • 6.2.1-信号采样与保持
  • 6.3.1-Z变换理论
  • 6.4.1-离散系统的数学模型（一）
  • 6.4.2-离散系统的数学模型(二)
  • 6.5.1-离散系统的稳定性、稳态误差及动态性能分析（一）
  • 6.5.2-离散系统的稳定性、稳态误差及动态性能分析（二）
  • 7.1.1-非线性控制系统概述及常见非线性特性对系统的影响
  • 7.2.1-描述函数法（一）
  • 7.2.2-描述函数法（二）
  • 猜你喜欢
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