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  • 1.1.1 自动控制的基本概念(P1)
  • 2.1.2 开环控制系统与闭环控制系统(P2)
  • 3.1.3 自动控制系统的分类(P3)
  • 4.1.4 对控制系统的要求(P4)
  • 5.2.1 动态系统的微分方程(1)(P5)
  • 6.2.1 动态系统的微分方程(2)(P6)
  • 7.2.2 控制系统的传递函数(1)(P7)
  • 8.2.2 控制系统的传递函数(2)(P8)
  • 9.2.3 控制系统的方块图及其等效变换(1)(P9)
  • 10.2.3 控制系统的方块图及其等效变换(2)(P10)
  • 11.2.4 控制系统的信号流图(1)(P11)
  • 12.2.4 控制系统的信号流图(2)(P12)
  • 13.3.1 典型输入信号和时域性能指标(1)(P13)
  • 14.3.1 典型输入信号和时域性能指标(2)(P14)
  • 15.3.2 一阶系统的瞬态响应(P15)
  • 16.3.3 二阶系统的瞬态响应(1)(P16)
  • 17.3.3 二阶系统的瞬态响应(2)(P17)
  • 18.3.3 二阶系统的瞬态响应(3)(P18)
  • 19.3.4 高阶系统分析(P19)
  • 20.3.5 系统稳定性及代数稳定判据(1)(P20)
  • 21.3.5 系统稳定性及代数稳定判据(2)(P21)
  • 22.3.5 系统稳定性及代数稳定判据(3)(P22)
  • 23.3.6 稳态误差分析(1)(P23)
  • 24.3.6 稳态误差分析(2)(P24)
  • 25.3.6 稳态误差分析(3)(P25)
  • 26.4.1 根轨迹的基本概念(1)(P26)
  • 27.4.1 根轨迹的基本概念(2)(P27)
  • 28.4.2 普通根轨迹的绘制(第一讲1)(P28)
  • 29.4.2 普通根轨迹的绘制(第一讲2)(P29)
  • 30.4.3 普通根轨迹的绘制(第二讲1)(P30)
  • 31.4.3 普通根轨迹的绘制(第二讲2)(P31)
  • 32.4.3 普通根轨迹的绘制(第二讲3)(P32)
  • 33.4.4 零度根轨迹的绘制(1)(P33)
  • 34.4.4 零度根轨迹的绘制(2)(P34)
  • 35.4.5 参量根轨迹的绘制(P35)
  • 36.4.6 根轨迹分析(1)(P36)
  • 37.4.6 根轨迹分析(2)(P37)
  • 38.5.1 频率特性的基本概念(P38)
  • 39.5.2 对数频率特性(1)(P39)
  • 40.5.3 对数频率特性(2)(P40)
  • 41.5.4 极坐标图(P41)
  • 42.5.5 奈奎斯特稳定判据(1)(P42)
  • 43.5.6 奈奎斯特稳定判据(2)(P43)
  • 44.5.7 稳定裕度(P44)
  • 45.5.8 系统动态特性与频率特性之间的关系(P45)
  • 46.6.1 校正的基本概念和形式(P46)
  • 47.6.2 超前校正(1)(P47)
  • 48.6.2 超前校正(2)(P48)
  • 49.6.2 超前校正(3)(P49)
  • 50.6.3 滞后校正(P50)
  • 51.6.4 滞后超前校正(P51)
  • 52.6.5 PID控制器(P52)
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