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  • 1 绪论[1]
  • 1 绪论[2]
  • 1 绪论[3]
  • 2.1 数学模型简介
  • 2.2 建立数学模型的一般方法[1]
  • 2.2 建立数学模型的一般方法[2]
  • 2.3 非线性及线性化
  • 2.4 传递函数
  • 2.6 动态结构图[1]
  • 2.6 动态结构图[2]
  • 2.7 控制系统的传递函数
  • 3.1 时域法简介和典型输入信号
  • 3.2 线性定常系统的稳定性和劳斯判据[2]
  • 3.2 线性定常系统的稳定性和劳斯判据[3]
  • 3.2 一阶系统的响应
  • 3.3 控制系统的时域性能指标
  • 3.4 一阶系统的响应
  • 3.5 二级系统的响应[2]
  • 3.5 二阶系统的响应[1]
  • 3.6 高阶系统的响应
  • 3.7 静态误差[1]
  • 3.7 静态误差[2]
  • 4.1 根轨迹的基本概念
  • 4.2 根轨迹的绘制规则[续]
  • 4.2 根轨迹绘制法则[2]
  • 4.2 根轨迹绘制法则[3]
  • 4.2 根轨迹绘制规则[1]
  • 4.3 利用根轨迹解决工程问题
  • 4.4 广义根轨迹
  • 4.5 根轨迹校正[1]
  • 4.5 根轨迹校正[2]
  • 5.1 频率特性的概念
  • 5.2 典型环节的频率特性[2]
  • 5.2 典型环节的频率特性[3]
  • 5.2 典型环节的频率特性[4]
  • 5.3 开环系统频率特性图的绘制[2]
  • 5.4 控制系统的频域稳定判据[段学超]
  • 5.4 控制系统的频域稳定判据[千博]
  • 5.5 稳定裕度
  • 5.6 闭环开环频率特性指标
  • 5.7 开环频率特性与闭环系统的性能关系
  • 5.8 开闭环系统抵制扰动的性能差异[1]
  • 5.8 开闭环系统抵制扰动的性能差异[2]
  • 6.4 复合校正和前馈校正[1]
  • 6.4 复合校正和前馈校正[2]
  • 6 串超前联校正[3]
  • 6 串联超前校正[2]
  • 6 串联校正
  • 6 串联滞后校正[1]
  • 6 串联滞后校正[2]
  • 6 串联滞后校正[3]
  • 7.1 非线性系统的基本概念
  • 7.2 非线性系统的特性
  • 7.3 描述函数法[1]
  • 7.3 描述函数法[2]
  • 7.4 相平面法[1]
  • 7.4 相平面法[2]
  • 7.4 相平面法[3]
  • 8 采样控制系统的零阶保持器
  • 8 采样控制系统的脉冲传递函数
  • 8 采样控制系统的稳定判据
  • 8 采样控制系统的稳态误差分析
  • 猜你喜欢
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